Nanoméretű fémszemcsék észlelése infravörös közelitér-mikroszkópiával szén nanocsövek belsejében
A nanotechnológia fejlődésével növekszik az igény nanostruktúrák gyors és roncsolásmentes azonosítására. Az SZFI-ben működő infravörös közelitér-mikroszkópia már szén és bórnitrid nanocsövek esetében sikeresnek bizonyult erre a feladatra, most még kisebb egységek, nikkel nanoszemcsék jelenlétét sikerült kimutatni szén nanocsövek belsejében.
A szemcséket egy szén nanocsőbe töltött nikkelvegyület hőkezelésével lehet előállítani, majd egy atomerő-mikroszkóp tűre fókuszált infravörös lézerfény szórását észlelve térképek készíthetők a cső belsejében levő fémről. A kísérleteket számítógépes szimulációkkal összevetve, a nikkelszemcsék a kontraszt alapján egyértelműen felismerhetők. A tű mérete által meghatározott térbeli felbontás kb. 25 nm, de mivel egyedi objektumokról van szó, az észlelhető méret a 1.5 nm átmérőjű nanocsövön belül néhány nm hosszú henger, ami kevesebb, mint 700 nikkelatomot tartalmaz.
A kutatást intézetünk munkatársai, Németh Gergely, Datz Dániel, Pekker Áron és Kamarás Katalin végezték, együttműködve az MFA, a BME és a Bécsi Egyetem kutatóival. Az eredményeket az RSC Advances folyóirat közölte.
Beküldte: Kamarás Katalin, 2019. 11. 24. 14.21, Hír típusa: Tudományos, Megtekintve: 4008 alkalommal