A transzmissziós elektronmikroszkópi vizsgálatokat előkészítő mintapreparáció bonyolult és soklépéses eljárás, ami kényelmesen követhető az egyes fázisokban a minta optikai mikroszkópos vizsgálatával.
Az alábbi, 50-szeres nagyítással készült felvételen a befoglaló korongon belül megfigyelhető az a két kb. 400 mikrométer vastagságú szilícium lemezke, amelyek közötti elválasztó sáv tartalmzza a vékonyítani kívánt mintát. Az elválasztó sáv a tényleges mintával ilyen nagyítás mellett még alig látható.

Az alábbi felvételek a két szilícium lemezke közötti területről készültek. A bal oldali 200-szoros nagyítású felvételen még csak halvány világos hajszálként látszik a tényleges mintadarab, ami a jobb oldali 1000-szeres nagyítású képen már világos sávként rajzolódik ki.

Az alábbi felvételen látható, hogy az 1000-szeres nagyítás és a kamerához tartozó szoftver együttesen lehetővé teszik a mikrométernél alig nagyobb távolságok mérését is a mikroszkópi felvételen.