Az MTA SZFKI
ZEISS AXIO IMAGER
anyagvizsgáló mikroszkópjával kapcsolatos közérdekű információk

 

 

A Zeiss Axio Imager anyagvizsgáló mikroszkóp egy sokrétűen használható készülék az anyagvizsgálatok során. A mikroszkóp jelenleg 5x, 20x és 100x nagyítású normál munkatávolságú objektívlencsékkel rendelkezik, ami a 10x okulárlencsékkel együtt 50x, 200x és 1000x nagyítást biztosít. 2009 nyarán került beszerzésre egy 50x nagyítású nagy munkatávolságú objektívlencse, amelynek segítségével akár 7 mm mélyen fekvő objektumok is tanulmányozhatók (szemben a kb. 0,75 mm normál munkatávolsággal a 100x nagyítású lencse esetén).

A vizsgálható objektumok méretét a tárgyasztal és az objektívlencsék maximális távolsága szabja meg, ez kb. 60 mm. A tárgyasztal alkalmas hagyományos méretű mikroszkópi tárgylemezek befogására. A tárgyasztal durva és finom mozgatása gombok segítségével, kézi úton történik.

A mikroszkóp kialakítása lehetővé teszi az átesőfényes és ráesőfényes megvilágítást. Mivel jelenleg csak egy lámpa üzemel, az üzemmódok közötti váltás csak a lámpetest átszerelésével valósítható meg. Második fényforrás beszerzése esetén kombinált megvilágítású üzemmód is kialakítható.

A mikroszkóp működtethető hagyományosan az okulárlencsék használatával. A fényút megváltoztatásával azonban a látott képet a harmadik tubusban elhelyezett 10 megapixeles Canon kamera segítségével rögzíthetjük is. A kamera a klasszikus szervetlen anyagvizsgálatok igényének megfelelően alapértelmezésben statikus kép rögzítésére használható. A képet a kamerával összekapcsolt számítógép kélpernyőjén lehet élesre állítani, illetve rögzíteni. A képrögzítést lehetővé tevő szoftver alkalmas a nagyítás kiválasztására, a képen történő távolság- és területmérésre, a képek formázására, azok különböző grafikus fájltípusokként való exportálására stb.

Vissza a kezdőlapra